SINGLE EVENT UPSET RATE PREDICTIONS FOR COMPLEX LOGIC SYSTEMS

被引：20

作者：

DIEHLNAGLE, SE ^{[1
]}

VINSON, JE ^{[1
]}

PETERSON, EL ^{[1
]}

机构：

[1] USN, RES LAB, WASHINGTON, DC 20375 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1984.4333470

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1132 / 1138

页数：7

共 14 条

[11] COSMIC-RAY INDUCED ERRORS IN MOS MEMORY CELLS [J].

PICKEL, JC ;

BLANDFORD, JT .

[12] COSMIC-RAY-INDUCED ERRORS IN MOS DEVICES [J].

PICKEL, JC ;

BLANDFORD, JT .

[13]

SHAPIRO P, 1983, NRL5171 MEM REP

[14] MODELING OF SINGLE-EVENT UPSET IN BIPOLAR INTEGRATED-CIRCUITS [J].

ZOUTENDYK, JA .