X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY INVESTIGATION OF ION-BEAM SPUTTERED INDIUM TIN OXIDE-FILMS AS A FUNCTION OF OXYGEN-PRESSURE DURING DEPOSITION

被引:63
作者
NELSON, AJ [1 ]
AHARONI, H [1 ]
机构
[1] BEN GURION UNIV NEGEV,DEPT ELECT & COMP ENGN,BEER SHEVA,ISRAEL
来源
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS | 1987年 / 5卷 / 02期
关键词
D O I
10.1116/1.574109
中图分类号
TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
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页数:3
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