HIGH SPATIAL-RESOLUTION IN STEM X-RAY-MICROANALYSIS

被引：13

作者：

THOMAS, LE

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(82)90218-2

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：311 / 318

页数：8

共 8 条

BROWN, LM .

JOURNAL OF PHYSICS F-METAL PHYSICS, 1981, 11 (01) :1-26

[2] ADJUSTMENT OF A STEM INSTRUMENT BY USE OF SHADOW IMAGES [J].

COWLEY, JM .

[3]

Hren J.J., 1979, BARRIERS AEM CONTAMI, P481

[4]

JONES IP, 1981, J MICROSC-OXFORD, V124, P3, DOI 10.1111/j.1365-2818.1981.tb01300.x

REIMER, L ;

WACHTER, M .

VENABLES, JA ;

JANSSEN, AP .

[7]

WELLS OC, 1974, SCANNING ELECTRON MI, P69

[8]

[No title captured]