THE EFFECT OF INSULATOR THICKNESS ON THE FORMING OF A MIM DEVICE

被引：3

作者：

RAY, AK ^{[1
]}

HOGARTH, CA ^{[1
]}

机构：

[1] BRUNEL UNIV,DEPT PHYS,UXBRIDGE UB8 3PH,MIDDX,ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1007/BF00729388

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：331 / 332

页数：2

共 9 条

[1] ELECTRICAL PHENOMENA IN AMORPHOUS OXIDE FILMS [J].

DEARNALEY, G ;

STONEHAM, AM ;

MORGAN, DV .

[2]

Dearnaley G., 1970, Journal of Non-Crystalline Solids, V4, P593, DOI 10.1016/0022-3093(70)90097-9

GOULD, RD .

HOGARTH, CA ;

TAHERI, EHZ .

[5]

RAHMAN A, 1982, THIN SOLID FILMS, V94, P204

RAKHSHANI, AE ;

HOGARTH, CA .

[7]

RAY AK, INT J ELECTRON

[8]

RAY AK, 1983, THESIS BRUNEL U

[9]

VERDERBER RR, 1967, PHILOS MAG, V16, P1049