IMAGING OF TIP SAMPLE COMPLIANCE IN STM

被引:12
作者
ANDERS, M [1 ]
HEIDEN, C [1 ]
机构
[1] UNIV GIESSEN,INST ANGEW PHYS,D-6300 GIESSEN,FED REP GER
来源
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1988年 / 152卷
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1988.tb01433.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
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页码:643 / 650
页数:8
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