TRANSIENT ENHANCED DIFFUSION IN ARSENIC-IMPLANTED SHORT-TIME ANNEALED SILICON

被引:52
作者
KALISH, R [1 ]
SEDGWICK, TO [1 ]
MADER, S [1 ]
SHATAS, S [1 ]
机构
[1] AG ASSOC,PALO ALTO,CA 94303
关键词
D O I
10.1063/1.94572
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:107 / 109
页数:3
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