ATOMIC SITE DETERMINATION USING THE CHANNELING EFFECT IN ELECTRON-INDUCED X-RAY-EMISSION

被引:60
作者
TAFTO, J
SPENCE, JCH
机构
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(82)90207-8
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
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页数:5
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