学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
TI COMPOUND FORMATION DURING TI DIFFUSION IN LINBO3
被引:20
作者
:
ARMENISE, MN
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IST FIS,I-35100 PADOVA,ITALY
ARMENISE, MN
CANALI, C
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IST FIS,I-35100 PADOVA,ITALY
CANALI, C
DESARIO, M
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IST FIS,I-35100 PADOVA,ITALY
DESARIO, M
CARNERA, A
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IST FIS,I-35100 PADOVA,ITALY
CARNERA, A
MAZZOLDI, P
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IST FIS,I-35100 PADOVA,ITALY
MAZZOLDI, P
CELOTTI, G
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
IST FIS,I-35100 PADOVA,ITALY
CELOTTI, G
机构
:
[1]
IST FIS,I-35100 PADOVA,ITALY
[2]
CNR,IST LAMEL,I-40126 BOLOGNA,ITALY
来源
:
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS HYBRIDS AND MANUFACTURING TECHNOLOGY
|
1982年
/ 5卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1109/TCHMT.1982.1135966
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:212 / 216
页数:5
相关论文
共 25 条
[21]
STUDY ON TITANIUM DIFFUSION INTO LINBO3 WAVEGUIDES BY ELECTRON-PROBE ANALYSIS AND X-RAY-DIFFRACTION METHODS
SUGII, K
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
SUGII, K
FUKUMA, M
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
FUKUMA, M
IWASAKI, H
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
IWASAKI, H
[J].
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE,
1978,
13
(03)
: 523
-
533
[22]
TU KN, 1978, THIN FILMS INTERDIFF, pCH5
[23]
X-RAY-DIFFRACTION TECHNIQUES FOR ANALYSIS OF EPITAXIC THIN-FILMS
WALLACE, CA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MARCONI ELLIOTT AVIONIC SYST LTD,BOREHAMWOOD,ENGLAND
WALLACE, CA
WARD, RCC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MARCONI ELLIOTT AVIONIC SYST LTD,BOREHAMWOOD,ENGLAND
WARD, RCC
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1975,
8
(OCT1)
: 545
-
556
[24]
X-RAY CYLINDRICAL TEXTURE CAMERA FOR EXAMINATION OF THIN-FILMS
WALLACE, CA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
GEC,CENT RES LABS,HIRST RES CTR,WEMBLEY,ENGLAND
GEC,CENT RES LABS,HIRST RES CTR,WEMBLEY,ENGLAND
WALLACE, CA
WARD, RCC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
GEC,CENT RES LABS,HIRST RES CTR,WEMBLEY,ENGLAND
GEC,CENT RES LABS,HIRST RES CTR,WEMBLEY,ENGLAND
WARD, RCC
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1975,
8
(APR1)
: 255
-
260
[25]
1980, SEMICONDUCTOR INT, V3
←
1
2
3
→
共 25 条
[21]
STUDY ON TITANIUM DIFFUSION INTO LINBO3 WAVEGUIDES BY ELECTRON-PROBE ANALYSIS AND X-RAY-DIFFRACTION METHODS
SUGII, K
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
SUGII, K
FUKUMA, M
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
FUKUMA, M
IWASAKI, H
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
IWASAKI, H
[J].
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE,
1978,
13
(03)
: 523
-
533
[22]
TU KN, 1978, THIN FILMS INTERDIFF, pCH5
[23]
X-RAY-DIFFRACTION TECHNIQUES FOR ANALYSIS OF EPITAXIC THIN-FILMS
WALLACE, CA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MARCONI ELLIOTT AVIONIC SYST LTD,BOREHAMWOOD,ENGLAND
WALLACE, CA
WARD, RCC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MARCONI ELLIOTT AVIONIC SYST LTD,BOREHAMWOOD,ENGLAND
WARD, RCC
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1975,
8
(OCT1)
: 545
-
556
[24]
X-RAY CYLINDRICAL TEXTURE CAMERA FOR EXAMINATION OF THIN-FILMS
WALLACE, CA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
GEC,CENT RES LABS,HIRST RES CTR,WEMBLEY,ENGLAND
GEC,CENT RES LABS,HIRST RES CTR,WEMBLEY,ENGLAND
WALLACE, CA
WARD, RCC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
GEC,CENT RES LABS,HIRST RES CTR,WEMBLEY,ENGLAND
GEC,CENT RES LABS,HIRST RES CTR,WEMBLEY,ENGLAND
WARD, RCC
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1975,
8
(APR1)
: 255
-
260
[25]
1980, SEMICONDUCTOR INT, V3
←
1
2
3
→