ELECTRON-SPECTROSCOPY STUDY OF HYDROGENATED AMORPHOUS-CARBON FILMS FORMED BY METHANE ION-BEAM DEPOSITION

被引:31
作者
OELHAFEN, P [1 ]
FREEOUF, JL [1 ]
HARPER, JME [1 ]
CUOMO, JJ [1 ]
机构
[1] IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
关键词
D O I
10.1016/0040-6090(84)90299-2
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页数:8
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