IMAGING OF DEEP LEVEL DOMAINS IN SEMIINSULATING GAAS BY VOLTAGE CONTRAST

被引：10

作者：

JOHNSON, DA ^{[1
]}

MYHAJLENKO, S ^{[1
]}

EDWARDS, JL ^{[1
]}

MARACAS, GN ^{[1
]}

ROEDEL, RJ ^{[1
]}

GORONKIN, H ^{[1
]}

机构：

[1] MOTOROLA INC,CTR COMPOUND SEMICOND TECHNOL,PHOENIX,AZ 85008

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.98768

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1152 / 1154

页数：3

共 7 条

[1]

Goronkin H., 1984, International Electron Devices Meeting. Technical Digest (Cat. No. 84CH2099-0), P182

MARACAS, GN ;

JOHNSON, DA ;

GORONKIN, H .

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