DLTS MEASUREMENTS OF TRAPPING DEFECTS IN HIGH-PURITY GERMANIUM

被引:30
作者
EVWARAYE, AO
HALL, RN
SOLTYS, TJ
机构
[1] General Electric Company, Corporate Research and Development Center, Schenectady
关键词
D O I
10.1109/TNS.1979.4329644
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
[No abstract available]
引用
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页码:271 / 275
页数:5
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