一种加速验证覆盖率收敛的数字集成电路验证系统

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专利类型
发明
申请号
CN202410280477.3
申请日
2024-03-12
公开(公告)号
CN117993336A
公开(公告)日
2024-05-07
发明(设计)人
胡学莹
申请人
沐曦科技(成都)有限公司
申请人地址
610041 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区世纪城路1129号A8栋3层
IPC主分类号
G06F30/33
IPC分类号
G06F30/327
代理机构
北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579
代理人
谢沙沙
法律状态
公开
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
一种加速验证覆盖率收敛的数字集成电路验证系统 [P]. 
胡学莹 .
中国专利 :CN117993336B ,2024-11-22
[2]
数字集成电路设计中状态机的验证方法及验证系统 [P]. 
陈安帅 .
中国专利 :CN114330179B ,2025-04-18
[3]
数字集成电路设计中状态机的验证方法及验证系统 [P]. 
陈安帅 .
中国专利 :CN114330179A ,2022-04-12
[4]
一种数字集成电路设计的验证方法 [P]. 
王博 ;
谢峥 ;
李姮乐 ;
杨宝国 ;
罗永贵 ;
宋建龙 ;
伍国斌 .
中国专利 :CN102737143A ,2012-10-17
[5]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN112526321A ,2021-03-19
[6]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN112526321B ,2025-03-18
[7]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN213780287U ,2021-07-23
[8]
数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P]. 
蒋知广 ;
张忠 .
中国专利 :CN115078978A ,2022-09-20
[9]
数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P]. 
蒋知广 ;
张忠 .
中国专利 :CN115078978B ,2025-04-01
[10]
覆盖率驱动随机验证集成电路的方法及系统 [P]. 
郭崎 ;
沈海华 ;
卫文丽 .
中国专利 :CN101488160A ,2009-07-22