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一种加速验证覆盖率收敛的数字集成电路验证系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410280477.3
申请日
:
2024-03-12
公开(公告)号
:
CN117993336A
公开(公告)日
:
2024-05-07
发明(设计)人
:
胡学莹
申请人
:
沐曦科技(成都)有限公司
申请人地址
:
610041 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区世纪城路1129号A8栋3层
IPC主分类号
:
G06F30/33
IPC分类号
:
G06F30/327
代理机构
:
北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579
代理人
:
谢沙沙
法律状态
:
公开
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-05-07
公开
公开
2024-11-22
授权
授权
2024-05-24
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/33申请日:20240312
共 50 条
[1]
一种加速验证覆盖率收敛的数字集成电路验证系统
[P].
胡学莹
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
沐曦科技(成都)有限公司
沐曦科技(成都)有限公司
胡学莹
.
中国专利
:CN117993336B
,2024-11-22
[2]
数字集成电路设计中状态机的验证方法及验证系统
[P].
陈安帅
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
展讯通信(上海)有限公司
展讯通信(上海)有限公司
陈安帅
.
中国专利
:CN114330179B
,2025-04-18
[3]
数字集成电路设计中状态机的验证方法及验证系统
[P].
陈安帅
论文数:
0
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0
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0
陈安帅
.
中国专利
:CN114330179A
,2022-04-12
[4]
一种数字集成电路设计的验证方法
[P].
王博
论文数:
0
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0
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0
王博
;
谢峥
论文数:
0
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谢峥
;
李姮乐
论文数:
0
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李姮乐
;
杨宝国
论文数:
0
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0
杨宝国
;
罗永贵
论文数:
0
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罗永贵
;
宋建龙
论文数:
0
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0
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0
宋建龙
;
伍国斌
论文数:
0
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0
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0
伍国斌
.
中国专利
:CN102737143A
,2012-10-17
[5]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统
[P].
陈良
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陈良
;
郭宪超
论文数:
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郭宪超
;
石培杰
论文数:
0
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石培杰
;
姚健
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0
姚健
.
中国专利
:CN112526321A
,2021-03-19
[6]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统
[P].
陈良
论文数:
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
陈良
;
郭宪超
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
郭宪超
;
石培杰
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
石培杰
;
姚健
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
姚健
.
中国专利
:CN112526321B
,2025-03-18
[7]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统
[P].
陈良
论文数:
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陈良
;
郭宪超
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0
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郭宪超
;
石培杰
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石培杰
;
姚健
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0
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0
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姚健
.
中国专利
:CN213780287U
,2021-07-23
[8]
数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路
[P].
蒋知广
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0
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0
蒋知广
;
张忠
论文数:
0
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0
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0
张忠
.
中国专利
:CN115078978A
,2022-09-20
[9]
数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路
[P].
蒋知广
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
蒋知广
;
张忠
论文数:
0
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
张忠
.
中国专利
:CN115078978B
,2025-04-01
[10]
覆盖率驱动随机验证集成电路的方法及系统
[P].
郭崎
论文数:
0
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郭崎
;
沈海华
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0
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0
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沈海华
;
卫文丽
论文数:
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0
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卫文丽
.
中国专利
:CN101488160A
,2009-07-22
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