金属半导体接触结构及半导体器件的制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311676783.0
申请日
2023-12-07
公开(公告)号
CN117650044A
公开(公告)日
2024-03-05
发明(设计)人
李翔 勇越 谢志平 丛茂杰
申请人
芯联越州集成电路制造(绍兴)有限公司
申请人地址
312000 浙江省绍兴市越城区皋埠街道临江路508号
IPC主分类号
H01L21/04
IPC分类号
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
曹廷廷
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件金属欧姆接触的制备方法及半导体结构 [P]. 
樊颖涛 ;
林露 ;
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[2]
半导体器件及制造半导体器件的方法 [P]. 
浅野正义 ;
三谷纯一 .
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[3]
半导体器件及半导体器件的制造方法 [P]. 
山崎舜平 ;
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[4]
制造半导体器件的方法及半导体器件 [P]. 
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J·希布尔 ;
D·波什图尔卡 ;
J·亚里娜 ;
V·亚尼里克 ;
A·申科娃 .
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[5]
半导体器件制造方法及半导体器件 [P]. 
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唐家乐 ;
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[6]
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[7]
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[8]
半导体结构的制造方法、半导体结构及半导体器件 [P]. 
耿佳 ;
邓元吉 ;
卢俊玮 .
中国专利 :CN120565500B ,2025-10-31
[9]
半导体结构、半导体结构的制造方法及半导体器件 [P]. 
蒋国梁 ;
杨军 .
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[10]
半导体器件制造方法 [P]. 
罗军 ;
赵超 ;
钟汇才 ;
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