高频太赫兹散射测试装置、测试方法以及分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510020210.1

申请日：

2015-01-14

公开(公告)号：

CN104634759A

公开(公告)日：

2015-05-20

发明(设计)人：

杨洋

申请人：

申请人地址：

067000 河北省承德市桃李街九号

IPC主分类号：

G01N2147

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

王朋飞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-10	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101645493561 IPC(主分类):G01N 21/47 专利申请号:2015100202101 申请日:20150114
2019-08-23	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 21/47 申请公布日:20150520
2015-05-20	公开	公开

共 50 条

[1]

太赫兹目标散射特性测试装置及测试方法 [P].

杨洋 ;

武寒松 ;

王力 ;

杨瑞臣 .

中国专利 :CN103792520B ,2014-05-14

[2]

太赫兹目标散射特性测试装置 [P].

杨洋 ;

武寒松 ;

王力 .

中国专利 :CN203204148U ,2013-09-18

[3]

测试装置以及测试方法 [P].

何羽轩 .

中国专利 :CN120446702A ,2025-08-08

[4]

测试装置以及测试方法 [P].

张冠程 .

中国专利 :CN118625092A ,2024-09-10

[5]

太赫兹探测模块测试工装及测试装置 [P].

王玉 ;

连盼昭 ;

李德才 ;

周彪 ;

孔令甲 ;

胡丹 ;

许向前 ;

赵瑞华 .

中国专利 :CN210835295U ,2020-06-23

[6]

测试方法、测试装置以及测试系统 [P].

陈志和 ;

陈郁婷 .

中国专利 :CN109921862B ,2019-06-21

[7]

近场太赫兹THz时域光谱测试装置 [P].

王琦龙 .

中国专利 :CN202305396U ,2012-07-04

[8]

测试装置以及测试方法 [P].

饭岛匡史 ;

木村英明 .

日本专利 :CN120265998A ,2025-07-04

[9]

测试装置以及测试方法 [P].

大空聡 ;

中川哲郎 ;

角田慎 ;

高岩伸贤 .

中国专利 :CN100559204C ,2006-08-16

[10]

测试装置以及测试方法 [P].

张藏文 ;

朱鹏 .

中国专利 :CN107863302A ,2018-03-30

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