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轮胎模具表面字符缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810769419.1
申请日
:
2018-07-13
公开(公告)号
:
CN108918536A
公开(公告)日
:
2018-11-30
发明(设计)人
:
蔡念
丁鹏
黎嘉明
方宏文
陈新度
王晗
申请人
:
申请人地址
:
510006 广东省广州市番禺区大学城外环西路100号
IPC主分类号
:
G01N2188
IPC分类号
:
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
罗满
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-11-30
公开
公开
2018-12-25
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20180713
2021-01-26
授权
授权
共 50 条
[1]
轮胎模具的字符缺陷检测方法
[P].
蔡念
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蔡念
;
陈裕潮
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陈裕潮
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叶倩
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叶倩
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岑冠东
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岑冠东
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王晗
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王晗
;
陈新度
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陈新度
.
中国专利
:CN106897990B
,2017-06-27
[2]
一种轮胎模具的字符缺陷检测方法
[P].
蔡念
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蔡念
;
陈裕潮
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陈裕潮
;
张福
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张福
;
刘根
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刘根
;
陈新度
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陈新度
;
王晗
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王晗
;
陈新
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陈新
.
中国专利
:CN105675626A
,2016-06-15
[3]
轮胎模具字符的检测与识别方法、装置、设备及存储介质
[P].
蔡念
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蔡念
;
丁鹏
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丁鹏
;
黎嘉明
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黎嘉明
;
莫卓锟
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莫卓锟
;
陈新度
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陈新度
;
王晗
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王晗
.
中国专利
:CN108960245B
,2018-12-07
[4]
表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
左正新
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左正新
;
王飞亚
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王飞亚
;
汪顺利
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汪顺利
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卢丹
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卢丹
;
范秋敏
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范秋敏
.
中国专利
:CN112669318A
,2021-04-16
[5]
表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
郎宁
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机构:
成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
郎宁
;
王飞
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
王飞
;
邓栋
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
邓栋
;
高一鸣
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机构:
成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
高一鸣
;
梁杰
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
梁杰
;
魏志豪
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
魏志豪
;
胡月
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
胡月
;
吕志愿
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
吕志愿
.
中国专利
:CN119904452B
,2025-07-15
[6]
表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
董立超
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董立超
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赵东峰
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赵东峰
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艾立夫
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艾立夫
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刘艺
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刘艺
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朱春霖
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朱春霖
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刘宝山
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刘宝山
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彭旭
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彭旭
.
中国专利
:CN111929310B
,2020-11-13
[7]
表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
郎宁
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
郎宁
;
王飞
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
王飞
;
邓栋
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
邓栋
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高一鸣
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
高一鸣
;
梁杰
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
梁杰
;
魏志豪
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
魏志豪
;
胡月
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成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
胡月
;
吕志愿
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机构:
成都飞机工业(集团)有限责任公司
成都飞机工业(集团)有限责任公司
吕志愿
.
中国专利
:CN119904452A
,2025-04-29
[8]
表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
董立超
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董立超
;
赵东峰
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赵东峰
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艾立夫
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艾立夫
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刘艺
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刘艺
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朱春霖
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朱春霖
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刘宝山
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刘宝山
;
彭旭
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彭旭
.
中国专利
:CN112883601A
,2021-06-01
[9]
表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
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机构:
高大化
;
黄宸宇
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机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
黄宸宇
;
魏来
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机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
魏来
;
论文数:
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机构:
刘丹华
.
中国专利
:CN118674681A
,2024-09-20
[10]
表面缺陷检测方法、设备及存储介质
[P].
许高
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机构:
季华实验室
季华实验室
许高
;
章锐
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季华实验室
季华实验室
章锐
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毕海
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季华实验室
毕海
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刘祥
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季华实验室
刘祥
;
闫晓庆
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机构:
季华实验室
季华实验室
闫晓庆
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中国专利
:CN118781113B
,2024-12-27
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