光学特性测量模拟装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810074526.2

申请日：

2018-01-25

公开(公告)号：

CN108562423A

公开(公告)日：

2018-09-21

发明(设计)人：

范小礼刘畅王静

申请人：

申请人地址：

100854 北京市海淀区永定路50号

IPC主分类号：

G01M1100

IPC分类号：

代理机构：

北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466

代理人：

黄启行;张璐

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-09-21	公开	公开
2020-11-27	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M 11/00 申请公布日:20180921
2018-10-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/00 申请日:20180125

共 50 条

[1]

一种空间目标光学特性实测条件的室内模拟装置 [P].

徐融 ;

赵飞 ;

杨新 ;

项磊 .

中国专利 :CN104792346B ,2015-07-22

[2]

光学特性测量方法、装置及设备 [P].

欧兴涛 ;

杨城 ;

汤深富 ;

白绳武 .

中国专利 :CN118706404A ,2024-09-27

[3]

光学特性测量装置 [P].

大久保和明 ;

白岩久志 .

中国专利 :CN103575508A ,2014-02-12

[4]

一种材料光学特性测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN105424615A ,2016-03-23

[5]

光学特性测量装置 [P].

关口瑛士 ;

清水晋二 ;

高桥诚 .

中国专利 :CN108369155A ,2018-08-03

[6]

光学特性测量装置 [P].

安藤利典 .

中国专利 :CN102735427A ,2012-10-17

[7]

一种材料光学特性测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN205808911U ,2016-12-14

[8]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

山崎雄介 ;

冈本宗大 .

中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06

[9]

光学特性测量装置及光学特性测量方法 [P].

小野修司 .

中国专利 :CN105473999B ,2016-04-06

[10]

光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN103403528A ,2013-11-20

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