一种低K介质层及其形成方法

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专利类型
发明
申请号
CN201210101641.7
申请日
2012-03-31
公开(公告)号
CN103367238B
公开(公告)日
2013-10-23
发明(设计)人
周鸣
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区上海市张江路18号
IPC主分类号
H01L21768
IPC分类号
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
屈蘅;李时云
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
低K介质阻挡层及其形成方法 [P]. 
周鸣 .
中国专利 :CN103390577A ,2013-11-13
[2]
一种低K介质阻挡层及其形成方法 [P]. 
周鸣 .
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[3]
多孔低k介质层的形成方法及多孔低k介质层 [P]. 
周鸣 .
中国专利 :CN104103572A ,2014-10-15
[4]
低K介质层结构、半导体器件结构及其形成方法 [P]. 
李若加 ;
陈国庆 .
中国专利 :CN102044525A ,2011-05-04
[5]
低K介质层中形成孔槽的方法 [P]. 
邓浩 ;
周鸣 .
中国专利 :CN103456680A ,2013-12-18
[6]
超低K介质层的形成方法 [P]. 
邓浩 .
中国专利 :CN105720005A ,2016-06-29
[7]
介质层的形成方法 [P]. 
邓浩 ;
张彬 .
中国专利 :CN102891080A ,2013-01-23
[8]
介质层的形成方法 [P]. 
汪钉崇 ;
蓝受龙 ;
杨小明 .
中国专利 :CN100517600C ,2008-04-02
[9]
介质层的形成方法 [P]. 
邓浩 ;
张彬 .
中国专利 :CN102903620A ,2013-01-30
[10]
介质层的形成方法 [P]. 
周鸣 .
中国专利 :CN102800622A ,2012-11-28