圆偏眼镜的光偏极化量测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220575950.3

申请日：

2012-11-05

公开(公告)号：

CN202903456U

公开(公告)日：

2013-04-24

发明(设计)人：

余章凯

申请人：

申请人地址：

中国台湾台北市重庆南路一段57号12楼之6

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

北京汇智英财专利代理事务所(普通合伙) 11301

代理人：

吴怀权

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-22	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20121105 授权公告日:20130424
2014-01-22	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101687521147 IPC(主分类):G01M 11/02 专利号:ZL2012205759503 变更事项:专利权人变更前权利人:光达检测科技有限公司变更后权利人:昆山精讯电子技术有限公司变更事项:地址变更前权利人:中国台湾台北市重庆南路一段57号12楼之6 变更后权利人:215300 江苏省苏州市昆山市开发区前进东路企业科技园科技广场大楼登记生效日:20131230
2014-09-03	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101704797539 IPC(主分类):G01M 11/02 专利号:ZL2012205759503 变更事项:专利权人变更前:昆山精讯电子技术有限公司变更后:昆山精讯电子技术有限公司变更事项:地址变更前:215300 江苏省苏州市昆山市开发区前进东路企业科技园科技广场大楼变更后:215300 江苏省苏州市昆山开发区风琴路118号

共 50 条

[1]

用于椭偏量测系统的自动聚焦方法 [P].

韩景珊 ;

王瑜 ;

杨峰 .

中国专利 :CN115388766A ,2022-11-25

[2]

用于椭偏量测系统的自动聚焦装置 [P].

韩景珊 ;

王瑜 ;

杨峰 .

中国专利 :CN115388765A ,2022-11-25

[3]

晶圆量测系统 [P].

许敢 ;

张和君 ;

霍阔 ;

吴清文 ;

王健强 ;

王群波 .

中国专利 :CN115458431A ,2022-12-09

[4]

用于椭偏量测系统的拟合优化方法和相关装置 [P].

杨峰 ;

韩景珊 ;

庄源 .

中国专利 :CN115391726A ,2022-11-25

[5]

晶圆薄膜量测装置及量测系统 [P].

李贤铭 ;

陈国庆 .

中国专利 :CN209087771U ,2019-07-09

[6]

光声膜厚量测系统及量测方法 [P].

陈鲁 ;

孙韬 ;

马砚忠 ;

白园园 .

中国专利 :CN119714093B ,2025-11-21

[7]

光声膜厚量测系统及量测方法 [P].

陈鲁 ;

孙韬 ;

马砚忠 ;

白园园 .

中国专利 :CN119714093A ,2025-03-28

[8]

晶圆传输装置及晶圆量测系统 [P].

蒋健君 ;

史晋峰 ;

梁晨锴 ;

张国栋 ;

米涛 .

中国专利 :CN222581124U ,2025-03-07

[9]

晶圆膜层中物质浓度的量测方法和量测系统 [P].

陈卫军 ;

欧阳增图 ;

刘凌海 .

中国专利 :CN118330009A ,2024-07-12

[10]

晶圆膜层中物质浓度的量测方法和量测系统 [P].

陈卫军 ;

欧阳增图 ;

刘凌海 .

中国专利 :CN118330009B ,2024-10-29

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