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用于椭偏量测系统的拟合优化方法和相关装置
被引:0
申请号
:
CN202210885421.1
申请日
:
2022-07-26
公开(公告)号
:
CN115391726A
公开(公告)日
:
2022-11-25
发明(设计)人
:
杨峰
韩景珊
庄源
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区华佗路68号张江创业园6幢
IPC主分类号
:
G06F1714
IPC分类号
:
G06F1715
代理机构
:
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
:
郑振
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-13
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/14 申请日:20220726
2022-11-25
公开
公开
共 50 条
[1]
用于椭偏量测系统的自动聚焦方法
[P].
韩景珊
论文数:
0
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0
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韩景珊
;
王瑜
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王瑜
;
杨峰
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杨峰
.
中国专利
:CN115388766A
,2022-11-25
[2]
用于椭偏量测系统的自动聚焦装置
[P].
韩景珊
论文数:
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韩景珊
;
王瑜
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王瑜
;
杨峰
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杨峰
.
中国专利
:CN115388765A
,2022-11-25
[3]
单旋转椭偏量测设备和双旋转椭偏量测设备的匹配方法及校准装置
[P].
张晓雷
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张晓雷
;
张厚道
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
张厚道
;
冯新月
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
冯新月
;
施耀明
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机构:
上海精测半导体技术有限公司
上海精测半导体技术有限公司
施耀明
.
中国专利
:CN117607064A
,2024-02-27
[4]
电路板的量测方法、量测系统和量测装置
[P].
罗国瑜
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机构:
礼鼎半导体科技秦皇岛有限公司
礼鼎半导体科技秦皇岛有限公司
罗国瑜
.
中国专利
:CN118250906A
,2024-06-25
[5]
一种Mueller矩阵型椭偏仪椭偏参数测量的优化方法
[P].
胡浩丰
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胡浩丰
;
刘铁根
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刘铁根
;
李校博
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李校博
.
中国专利
:CN107490547B
,2017-12-19
[6]
圆偏眼镜的光偏极化量测系统
[P].
余章凯
论文数:
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余章凯
.
中国专利
:CN202903456U
,2013-04-24
[7]
呼吸相关信号量测系统及其量测方法
[P].
祓川浩一
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祓川浩一
;
简仁建
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简仁建
;
徐采潔
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徐采潔
;
刘至伟
论文数:
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刘至伟
.
中国专利
:CN105686832A
,2016-06-22
[8]
量测系统和方法
[P].
尹昶植
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0
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
尹昶植
;
A·E·A·库伦
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·E·A·库伦
;
J·N·M·霍格维尔德
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
J·N·M·霍格维尔德
;
A·朱博尔
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·朱博尔
;
R·C·齐默曼
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
R·C·齐默曼
;
A·K·罗布
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·K·罗布
;
金玉玮
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
金玉玮
;
郑舒婷
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
郑舒婷
;
V·T·坦纳
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
V·T·坦纳
;
魏旭康
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
魏旭康
;
L·K·L·古特克斯
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
L·K·L·古特克斯
.
:CN119404140A
,2025-02-07
[9]
用于各种量测标记类型的广谱量测系统和方法
[P].
林宇翔
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
林宇翔
.
:CN120826646A
,2025-10-21
[10]
量测方法及相关联的量测设备
[P].
A·E·A·库伦
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·E·A·库伦
;
郑舒婷
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
郑舒婷
;
H·A·J·克莱默
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
H·A·J·克莱默
;
K·J·L·王
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
K·J·L·王
.
:CN118871863A
,2024-10-29
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