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用于椭偏量测系统的自动聚焦方法
被引:0
申请号
:
CN202210956119.0
申请日
:
2022-08-10
公开(公告)号
:
CN115388766A
公开(公告)日
:
2022-11-25
发明(设计)人
:
韩景珊
王瑜
杨峰
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区华佗路68号张江创业园6幢
IPC主分类号
:
G01B1100
IPC分类号
:
G01B1106
G01N2101
G02B728
G02B709
代理机构
:
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
:
郑振
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-13
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20220810
2022-11-25
公开
公开
共 50 条
[1]
用于椭偏量测系统的自动聚焦装置
[P].
韩景珊
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韩景珊
;
王瑜
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王瑜
;
杨峰
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杨峰
.
中国专利
:CN115388765A
,2022-11-25
[2]
用于椭偏量测系统的拟合优化方法和相关装置
[P].
杨峰
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杨峰
;
韩景珊
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韩景珊
;
庄源
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庄源
.
中国专利
:CN115391726A
,2022-11-25
[3]
量测卡、量测系统及量测方法
[P].
张育维
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机构:
财团法人工业技术研究院
财团法人工业技术研究院
张育维
;
杨茆世芳
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机构:
财团法人工业技术研究院
财团法人工业技术研究院
杨茆世芳
;
马天彦
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机构:
财团法人工业技术研究院
财团法人工业技术研究院
马天彦
.
中国专利
:CN117804330A
,2024-04-02
[4]
圆偏眼镜的光偏极化量测系统
[P].
余章凯
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余章凯
.
中国专利
:CN202903456U
,2013-04-24
[5]
一种高精量测系统中的自动聚焦的方法
[P].
孙宝
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机构:
拓荆键科(海宁)半导体设备有限公司
拓荆键科(海宁)半导体设备有限公司
孙宝
;
李小飞
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机构:
拓荆键科(海宁)半导体设备有限公司
拓荆键科(海宁)半导体设备有限公司
李小飞
;
吴晨刚
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机构:
拓荆键科(海宁)半导体设备有限公司
拓荆键科(海宁)半导体设备有限公司
吴晨刚
.
中国专利
:CN119810206A
,2025-04-11
[6]
待测样品的量测系统及方法
[P].
白园园
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
白园园
;
马砚忠
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
马砚忠
;
论文数:
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机构:
陈鲁
.
中国专利
:CN120490171A
,2025-08-15
[7]
生理量测的感测系统与方法
[P].
李彦贤
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李彦贤
;
林宏墩
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林宏墩
;
曾文仁
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曾文仁
.
中国专利
:CN104545859B
,2015-04-29
[8]
量测系统和方法
[P].
尹昶植
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
尹昶植
;
A·E·A·库伦
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·E·A·库伦
;
J·N·M·霍格维尔德
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
J·N·M·霍格维尔德
;
A·朱博尔
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·朱博尔
;
R·C·齐默曼
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
R·C·齐默曼
;
A·K·罗布
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ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·K·罗布
;
金玉玮
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
金玉玮
;
郑舒婷
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ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
郑舒婷
;
V·T·坦纳
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ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
V·T·坦纳
;
魏旭康
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
魏旭康
;
L·K·L·古特克斯
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
L·K·L·古特克斯
.
:CN119404140A
,2025-02-07
[9]
量测系统与量测方法
[P].
张钰林
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张钰林
;
童凯炀
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童凯炀
;
林茂青
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林茂青
.
中国专利
:CN107966625A
,2018-04-27
[10]
长距离无透镜检偏臂太赫兹椭偏测厚系统
[P].
杨超
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机构:
北京长城航空测控技术研究所有限公司
北京长城航空测控技术研究所有限公司
杨超
;
马庆
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机构:
北京长城航空测控技术研究所有限公司
北京长城航空测控技术研究所有限公司
马庆
;
郝丛静
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机构:
北京长城航空测控技术研究所有限公司
北京长城航空测控技术研究所有限公司
郝丛静
;
李蔚
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机构:
北京长城航空测控技术研究所有限公司
北京长城航空测控技术研究所有限公司
李蔚
;
刘德峰
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机构:
北京长城航空测控技术研究所有限公司
北京长城航空测控技术研究所有限公司
刘德峰
.
中国专利
:CN118980323A
,2024-11-19
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