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一种IC芯片测试治具
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201720696784.5
申请日：
2017-06-15
公开(公告)号：
CN206832951U
公开(公告)日：
2018-01-02
发明(设计)人：
廖炳隆
申请人：
申请人地址：
210000 江苏省南京市浦口区桥林街道步月路29号12幢-80
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2018-01-02 | 授权 | 授权 |