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一种IC芯片用测试治具
被引：0
申请号：
CN202220708901.6
申请日：
2022-03-30
公开(公告)号：
CN217359991U
公开(公告)日：
2022-09-02
发明(设计)人：
廖强
刘强
何川
申请人：
申请人地址：
610000 四川省成都市东三环路二段宝耳路2号内第1号办公楼3楼302
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3128
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-09-02 | 授权 | 授权 |