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一种新型IC芯片测试治具
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202323546756.X
申请日：
2023-12-26
公开(公告)号：
CN222379737U
公开(公告)日：
2025-01-21
发明(设计)人：
陶品岳
陶柳
杨镇武
申请人：
北京奕芯科技有限公司
申请人地址：
100000 北京市丰台区南四环西路186号三区1号楼-1至11层101内11层06室
IPC主分类号：
G01R1/04
IPC分类号：
G01R31/28
代理机构：
哈尔滨市松花江联合专利商标代理有限公司 23213
代理人：
侯静
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-01-21 | 授权 | 授权 |