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一种IC芯片测试治具
被引：0
申请号：
CN202221358758.9
申请日：
2022-06-01
公开(公告)号：
CN218017998U
公开(公告)日：
2022-12-13
发明(设计)人：
冯文斌
申请人：
申请人地址：
518035 广东省深圳市宝安区西乡街道盐田社区银田路4号华丰宝安智谷科技创新园B座402
IPC主分类号：
B25B1100
IPC分类号：
代理机构：
深圳博敖专利代理事务所(普通合伙) 44884
代理人：
傅汝毅
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-12-13 | 授权 | 授权 |