一种用于芯片测试的夹具和芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202120529480.6

申请日：

2021-03-12

公开(公告)号：

CN214953920U

公开(公告)日：

2021-11-30

发明(设计)人：

刘春颖单书珊陈燕宁董广智钟明琛刘波鹿祥宾

申请人：

申请人地址：

102200 北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京润平知识产权代理有限公司 11283

代理人：

肖冰滨;王晓晓

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-30	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试夹具和芯片测试装置 [P].

张婵娟 ;

王国峰 .

中国专利 :CN117330930A ,2024-01-02

[2]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[3]

芯片测试机和芯片测试装置 [P].

陈群 ;

彭报 .

中国专利 :CN216133165U ,2022-03-25

[4]

芯片测试组件和芯片测试装置 [P].

赵海洋 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

揭佳林 ;

范志超 ;

曾岩 ;

李安平 .

中国专利 :CN212808508U ,2021-03-26

[5]

一种裸芯片测试夹具和一种裸芯片测试装置 [P].

汪佳娣 ;

刘贵亚 ;

丁静萍 .

中国专利 :CN210626525U ,2020-05-26

[6]

芯片旋转测试夹具、芯片测试装置及芯片测试机 [P].

沈炳元 ;

林咏华 .

中国专利 :CN120233127A ,2025-07-01

[7]

芯片旋转测试夹具、芯片测试装置及芯片测试机 [P].

沈炳元 ;

林咏华 .

中国专利 :CN120233127B ,2025-08-08

[8]

一种用于芯片测试的测试装置 [P].

唐仁伟 ;

孙成扬 ;

文根发 .

中国专利 :CN223284337U ,2025-08-29

[9]

用于芯片的测试装置 [P].

王国强 ;

李一虎 ;

杜允 ;

陈彦宏 ;

王小龙 ;

姬晓春 ;

郑东 .

中国专利 :CN222838161U ,2025-05-06

[10]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

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