学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种包含多种校准类型的晶圆标准样板
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202022169212.6
申请日
:
2020-09-28
公开(公告)号
:
CN213750299U
公开(公告)日
:
2021-07-20
发明(设计)人
:
蒋庄德
张雅馨
王琛英
景蔚萱
林启敬
张易军
张亮亮
高崐
李磊
毛琦
王松
牛忠楠
申请人
:
申请人地址
:
710049 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
IPC主分类号
:
G01R3500
IPC分类号
:
G03F720
代理机构
:
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人
:
苟冬梅
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-20
授权
授权
共 50 条
[41]
一种双光路晶圆位移测量装置
[P].
车志东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南京科兴半导体检测设备有限公司
南京科兴半导体检测设备有限公司
车志东
;
陈龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南京科兴半导体检测设备有限公司
南京科兴半导体检测设备有限公司
陈龙
.
中国专利
:CN119826705A
,2025-04-15
[42]
一种无接触高效晶圆精确测量装置
[P].
许军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
许军
;
高倩妹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高倩妹
;
汪亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
汪亮
.
中国专利
:CN115621188A
,2023-01-17
[43]
一种晶圆厚度自动检测装置
[P].
邓仁陶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邓仁陶
;
刁庆伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刁庆伟
;
陈万良
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈万良
;
罗立超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗立超
.
中国专利
:CN214893108U
,2021-11-26
[44]
一种阵列的校准装置及校准方法
[P].
晏明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
晏明
;
欧阳骏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
欧阳骏
;
沈学光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
沈学光
.
中国专利
:CN107219408A
,2017-09-29
[45]
一种高精度齿轮螺旋线样板测量装置
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
凌四营
;
徐浩杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
汕头大学
汕头大学
徐浩杰
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张嘉阳
;
彭峙雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
汕头大学
汕头大学
彭峙雄
;
梁永亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
汕头大学
汕头大学
梁永亮
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王奉涛
.
中国专利
:CN120445018A
,2025-08-08
[46]
一种晶圆抛光方法、装置、设备及存储介质
[P].
何江玲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
迈为技术(珠海)有限公司
迈为技术(珠海)有限公司
何江玲
;
黄嘉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
迈为技术(珠海)有限公司
迈为技术(珠海)有限公司
黄嘉
;
陈万群
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
迈为技术(珠海)有限公司
迈为技术(珠海)有限公司
陈万群
;
盛存国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
迈为技术(珠海)有限公司
迈为技术(珠海)有限公司
盛存国
;
王正根
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
迈为技术(珠海)有限公司
迈为技术(珠海)有限公司
王正根
.
中国专利
:CN118789368A
,2024-10-18
[47]
一种高精度齿轮螺旋线样板测量装置
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
凌四营
;
徐浩杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
汕头大学
汕头大学
徐浩杰
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张嘉阳
;
彭峙雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
汕头大学
汕头大学
彭峙雄
;
梁永亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
汕头大学
汕头大学
梁永亮
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王奉涛
.
中国专利
:CN120445018B
,2025-09-19
[48]
一种晶圆表面粗糙度快速测量装置
[P].
张晓洪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州海乾半导体有限公司
杭州海乾半导体有限公司
张晓洪
;
戴慧艳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州海乾半导体有限公司
杭州海乾半导体有限公司
戴慧艳
;
杨悦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州海乾半导体有限公司
杭州海乾半导体有限公司
杨悦
.
中国专利
:CN220356354U
,2024-01-16
[49]
一种晶圆厚度检测器及其检测方法
[P].
解树平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州瑞霏光电科技有限公司
苏州瑞霏光电科技有限公司
解树平
;
刘威
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州瑞霏光电科技有限公司
苏州瑞霏光电科技有限公司
刘威
;
徐帅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州瑞霏光电科技有限公司
苏州瑞霏光电科技有限公司
徐帅
.
中国专利
:CN117894699B
,2024-06-18
[50]
一种晶圆厚度检测器及其检测方法
[P].
解树平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州瑞霏光电科技有限公司
苏州瑞霏光电科技有限公司
解树平
;
刘威
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州瑞霏光电科技有限公司
苏州瑞霏光电科技有限公司
刘威
;
徐帅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州瑞霏光电科技有限公司
苏州瑞霏光电科技有限公司
徐帅
.
中国专利
:CN117894699A
,2024-04-16
←
1
2
3
4
5
→