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施瓦茨光学系统波像差测量方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201410455642.0
申请日：
2014-09-09
公开(公告)号：
CN104236855A
公开(公告)日：
2014-12-24
发明(设计)人：
戴凤钊
王向朝
蔡燕民
申请人：
申请人地址：
201800 上海市嘉定区上海市800－211邮政信箱
IPC主分类号：
G01M1102
IPC分类号：
代理机构：
上海新天专利代理有限公司 31213
代理人：
张泽纯;张宁展
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2014-12-24 | 公开 | 公开 |
| 2016-09-21 | 授权 | 授权 |
| 2015-01-14 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101595664276 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2014104556420 申请日:20140909 |