施瓦茨光学系统波像差测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410455642.0

申请日：

2014-09-09

公开(公告)号：

CN104236855A

公开(公告)日：

2014-12-24

发明(设计)人：

戴凤钊王向朝蔡燕民

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区上海市800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：

张泽纯;张宁展

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-12-24	公开	公开
2016-09-21	授权	授权
2015-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101595664276 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2014104556420 申请日:20140909

共 50 条

[41]

一种光学系统倍率色差的测量方法 [P].

张齐元 ;

朱大勇 ;

韩森 ;

朱怀康 ;

王浩宇 .

中国专利 :CN112985780A ,2021-06-18

[42]

光学系统 [P].

胡朝彰 ;

翁智伟 ;

陈树山 ;

叶永县 ;

宋欣忠 .

中国专利 :CN211741682U ,2020-10-23

[43]

一种光学系统鬼像测量方法及系统 [P].

吴方 ;

卢庆杰 ;

卢苑云 ;

赵治平 .

中国专利 :CN112067254B ,2020-12-11

[44]

光学系统中像差校正的系统的方法 [P].

卢克·斯图尔特 ;

格伦·韦恩·巴克斯特 ;

史蒂文·詹姆斯·弗里斯特 .

中国专利 :CN111190246A ,2020-05-22

[45]

光学系统中像差校正的系统的方法 [P].

卢克·斯图尔特 ;

格伦·韦恩·巴克斯特 ;

史蒂文·詹姆斯·弗里斯特 .

中国专利 :CN114594550A ,2022-06-07

[46]

光学系统中像差校正的系统的方法 [P].

卢克·斯图尔特 ;

格伦·韦恩·巴克斯特 ;

史蒂文·詹姆斯·弗里斯特 .

中国专利 :CN105359010A ,2016-02-24

[47]

光学系统线性测量装置及方法 [P].

冯国进 ;

许宁 ;

马宇轩 .

中国专利 :CN113125125A ,2021-07-16

[48]

波像差测量装置及其测量方法 [P].

陆海亮 ;

王帆 .

中国专利 :CN102608870B ,2012-07-25

[49]

一种光学系统受迫振动的在线测量方法及装置 [P].

王大辉 ;

赵学庆 ;

张永生 ;

孙昱薇 ;

胡云 ;

易爱平 ;

赵军 .

中国专利 :CN102735423B ,2012-10-17

[50]

一种应用于光学系统的角度测量方法及测量装置 [P].

孙琦 .

中国专利 :CN109883360B ,2019-06-14

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