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一种光学系统倍率色差的测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110294199.3
申请日
:
2021-03-19
公开(公告)号
:
CN112985780A
公开(公告)日
:
2021-06-18
发明(设计)人
:
张齐元
朱大勇
韩森
朱怀康
王浩宇
申请人
:
申请人地址
:
215123 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路150第二教学楼B109室
IPC主分类号
:
G01M1102
IPC分类号
:
代理机构
:
上海德昭知识产权代理有限公司 31204
代理人
:
郁旦蓉
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-06-18
公开
公开
2021-07-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20210319
共 50 条
[1]
一种光学系统点扩散函数椭率测量方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
罗敬
;
论文数:
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机构:
徐天晓
;
论文数:
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机构:
张晓辉
;
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机构:
何煦
;
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机构:
董吉洪
;
徐抒岩
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
徐抒岩
.
中国专利
:CN116007906B
,2025-05-16
[2]
一种光学系统点扩散函数能量集中度测量方法
[P].
程雪
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机构:
中国科学院上海技术物理研究所
中国科学院上海技术物理研究所
程雪
;
论文数:
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机构:
傅雨田
;
论文数:
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机构:
刘晓华
;
论文数:
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机构:
陈永和
;
论文数:
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机构:
徐放
;
张东阁
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0
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0
机构:
中国科学院上海技术物理研究所
中国科学院上海技术物理研究所
张东阁
.
中国专利
:CN118225396A
,2024-06-21
[3]
一种基于角度测量星敏感器光学系统倍率色差的方法
[P].
张鹏
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张鹏
;
曹学东
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曹学东
.
中国专利
:CN111610000B
,2020-09-01
[4]
光学系统综合测量装置
[P].
牛津
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牛津
;
田苗
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田苗
;
高蕾
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高蕾
;
冯卫平
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冯卫平
;
旷立明
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旷立明
.
中国专利
:CN107063643A
,2017-08-18
[5]
基于光学系统鬼像测量装置的光学系统鬼像测量方法
[P].
薛勋
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薛勋
;
赵建科
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赵建科
;
刘尚阔
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刘尚阔
;
张洁
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张洁
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胡丹丹
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胡丹丹
;
李坤
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李坤
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曹昆
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曹昆
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昌明
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昌明
;
王争锋
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王争锋
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李晶
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李晶
;
赵怀学
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赵怀学
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陈永权
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陈永权
;
段亚轩
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段亚轩
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田留德
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田留德
;
潘亮
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潘亮
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徐亮
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徐亮
;
刘峰
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刘峰
;
赛建刚
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赛建刚
;
周艳
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周艳
;
高斌
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高斌
;
高博
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高博
.
中国专利
:CN106248351B
,2016-12-21
[6]
一种光学系统虚像视距测量方法
[P].
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机构:
张军
;
论文数:
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机构:
田方旭
;
李海琦
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机构:
暨南大学
暨南大学
李海琦
;
卢小连
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机构:
暨南大学
暨南大学
卢小连
.
中国专利
:CN114993627B
,2024-07-02
[7]
一种光学系统虚像视距测量方法
[P].
张军
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张军
;
田方旭
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田方旭
;
李海琦
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李海琦
;
卢小连
论文数:
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卢小连
.
中国专利
:CN114993627A
,2022-09-02
[8]
光学系统波前测量装置及测量方法
[P].
陈永权
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0
陈永权
;
段亚轩
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段亚轩
;
李坤
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李坤
;
赵建科
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赵建科
;
胡丹丹
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胡丹丹
;
赛建刚
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赛建刚
;
龙江波
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龙江波
.
中国专利
:CN103226059A
,2013-07-31
[9]
测量光学系统参数的测量装置及其测量方法
[P].
刘国淦
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刘国淦
;
蔡燕民
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蔡燕民
.
中国专利
:CN101226344B
,2008-07-23
[10]
光学系统及该光学系统的荧光测量方法和预定位方法
[P].
李晓东
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李晓东
;
宫宇
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宫宇
;
李延春
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李延春
;
杨栋亮
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杨栋亮
.
中国专利
:CN106525884A
,2017-03-22
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