芯片微小模拟信号测试方法和测试装置

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专利类型
发明
申请号
CN202011095943.9
申请日
2020-10-14
公开(公告)号
CN112305406A
公开(公告)日
2021-02-02
发明(设计)人
谢晋春 辛吉升
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
戴广志
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片微小模拟信号测试方法和测试装置 [P]. 
谢晋春 ;
辛吉升 .
中国专利 :CN112305406B ,2024-03-15
[2]
多通道模拟信号测试装置和测试机 [P]. 
叶金成 ;
孙权 ;
曹锋 ;
余益伟 .
中国专利 :CN222748661U ,2025-04-11
[3]
芯片内部模拟信号测试条件的判定方法 [P]. 
桂伟 ;
钱亮 ;
奚凯华 .
中国专利 :CN103217640A ,2013-07-24
[4]
芯片测试装置和芯片测试方法 [P]. 
魏斌 ;
成嵩 ;
窦志军 ;
王栋 ;
徐靖林 ;
金锐 .
中国专利 :CN112100015A ,2020-12-18
[5]
芯片测试装置和芯片测试方法 [P]. 
华正明 .
中国专利 :CN107544019A ,2018-01-05
[6]
信号测试装置及信号测试方法 [P]. 
陈雷 .
中国专利 :CN112905400A ,2021-06-04
[7]
信号测试装置以及信号测试方法 [P]. 
陈冠维 ;
魏子喻 ;
陈义宪 ;
陈毅唐 ;
洪启翔 ;
王丁凯 .
中国专利 :CN113759231A ,2021-12-07
[8]
信号测试电路、测试芯片及测试装置 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119575049B ,2025-04-18
[9]
信号测试电路、测试芯片及测试装置 [P]. 
赖俊生 .
中国专利 :CN119575049A ,2025-03-07
[10]
指纹芯片模拟测试装置 [P]. 
施元军 ;
刘凯 .
中国专利 :CN206657086U ,2017-11-21