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芯片微小模拟信号测试方法和测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011095943.9
申请日：
2020-10-14
公开(公告)号：
CN112305406B
公开(公告)日：
2024-03-15
发明(设计)人：
谢晋春
辛吉升
申请人：
上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请人地址：
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人：
戴广志
法律状态：
授权
国省代码：
上海市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-03-15 | 授权 | 授权 |