用于大面积基板的聚焦离子束系统

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专利类型
发明
申请号
CN201980069961.9
申请日
2019-10-07
公开(公告)号
CN112912988A
公开(公告)日
2021-06-04
发明(设计)人
伯纳德·G·穆勒
申请人
申请人地址
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
H01J37305
IPC分类号
H01J3731 H01J37302 H01J37304
代理机构
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人
徐金国;赵静
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
用于大面积基板的聚焦离子束系统 [P]. 
伯纳德·G·穆勒 .
美国专利 :CN112912988B ,2024-12-17
[2]
聚焦离子束系统 [P]. 
高峰 ;
高强 .
中国专利 :CN119549924A ,2025-03-04
[3]
用于聚焦离子束系统的光阑结构 [P]. 
曾卓 ;
郭伟 .
中国专利 :CN223513904U ,2025-11-04
[4]
用于聚焦离子束设备的散热装置及其聚焦离子束设备 [P]. 
刘宝露 .
中国专利 :CN223206221U ,2025-08-08
[5]
聚焦离子束系统及改进聚焦粒子束加工的方法 [P]. 
T.米勒 ;
S.克罗格 ;
S.张 ;
M.马佐斯 ;
A.格劳佩拉 .
中国专利 :CN103456588B ,2013-12-18
[6]
用于捕获离子束粒子和聚焦离子束的方法和系统 [P]. 
彼得·克雷曼 ;
维特·班威尼斯特 ;
亚历山大·普瑞尔 ;
布莱恩·弗瑞尔 ;
麦可·葛瑞夫 .
中国专利 :CN101432841B ,2009-05-13
[7]
聚焦离子束设备及聚焦离子束检测方法 [P]. 
赖李龙 .
中国专利 :CN101246132B ,2008-08-20
[8]
基于聚焦离子束刻蚀光波导的方法 [P]. 
杨琳娟 ;
姜潇潇 ;
谷琼婵 ;
宋爱娟 ;
梁丽勤 ;
吕江涛 ;
王凤文 ;
司光远 .
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[9]
用于聚焦离子束处理的终点确定 [P]. 
S.E.富勒 ;
J.唐纳德 ;
T.西蒙特柴鲍沃尔恩 .
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[10]
聚焦离子束杂质鉴定 [P]. 
J.格雷厄姆 ;
L.克拉尔 .
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