半导体沟槽结构的形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410086071.8
申请日
2014-03-10
公开(公告)号
CN103824804A
公开(公告)日
2014-05-28
发明(设计)人
杨彦涛 季锋 江宇雷 赵金波 刘琛 桑雨果
申请人
申请人地址
310018 浙江省杭州市杭州(下沙)经济技术开发区东区10号路308号
IPC主分类号
H01L21762
IPC分类号
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
郑玮
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[41]
半导体结构的形成方法 [P]. 
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俞少峰 ;
陈林林 ;
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虞肖鹏 .
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李广宁 .
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赵海 .
中国专利 :CN105097533A ,2015-11-25
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邓浩 .
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左敏 .
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