影像感测器及半导体元件的形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200710089515.3
申请日
2007-03-27
公开(公告)号
CN101106144A
公开(公告)日
2008-01-16
发明(设计)人
蒋尚义 王中枢 伍寿国 杨敦年
申请人
申请人地址
中国台湾新竹
IPC主分类号
H01L27146
IPC分类号
H01L21822 H01L21761
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所
代理人
刘新宇
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
影像感测器及形成影像感测器的方法及半导体元件 [P]. 
郑允玮 ;
周俊豪 ;
李国政 ;
陈英豪 .
中国专利 :CN113540132A ,2021-10-22
[2]
形成半导体元件及半导体影像感测器的方法 [P]. 
谢友岚 ;
林志旻 ;
王建忠 .
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[3]
半导体装置、影像感测器及其形成方法 [P]. 
李岳川 ;
黄仕贤 ;
陈嘉展 ;
陈步芳 .
中国专利 :CN113823649B ,2024-08-30
[4]
半导体装置、影像感测器及其形成方法 [P]. 
李岳川 ;
黄仕贤 ;
陈嘉展 ;
陈步芳 .
中国专利 :CN113823649A ,2021-12-21
[5]
半导体结构、影像感测器和半导体结构的形成方法 [P]. 
谢丰键 ;
郑允玮 ;
胡维礼 ;
李国政 ;
陈信吉 .
中国专利 :CN113053929B ,2025-03-28
[6]
半导体结构、影像感测器和半导体结构的形成方法 [P]. 
谢丰键 ;
郑允玮 ;
胡维礼 ;
李国政 ;
陈信吉 .
中国专利 :CN113053929A ,2021-06-29
[7]
半导体影像感测器和制造半导体影像感测器的方法 [P]. 
卢俊良 ;
邱钲皓 ;
林焕恩 ;
周俊豪 ;
李国政 .
中国专利 :CN114464634A ,2022-05-10
[8]
半导体装置与影像感测器集成芯片的形成方法 [P]. 
郭晋嘉 ;
吴东庭 ;
施俊吉 ;
黄益民 .
中国专利 :CN109841641A ,2019-06-04
[9]
互补金属氧化物半导体影像感测器及形成方法 [P]. 
吴扬 ;
依那.派翠克 ;
张宇轩 ;
金起弘 ;
郁飞霞 .
中国专利 :CN107346775B ,2017-11-14
[10]
影像感测器及半导体结构 [P]. 
杨孟达 .
中国专利 :CN110972505A ,2020-04-07