半导体器件的形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201310698748.9
申请日
2013-12-18
公开(公告)号
CN104733387B
公开(公告)日
2015-06-24
发明(设计)人
谢欣云
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H01L218238
IPC分类号
H01L21336
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
骆苏华
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
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半导体器件及其形成方法 [P]. 
徐建华 .
中国专利 :CN105304565B ,2016-02-03
[2]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
赵杰 .
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[3]
半导体器件的形成方法 [P]. 
黄敬勇 ;
何其暘 .
中国专利 :CN106298669A ,2017-01-04
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半导体器件的形成方法 [P]. 
赵杰 .
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半导体器件的形成方法 [P]. 
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[6]
半导体器件的形成方法 [P]. 
禹国宾 .
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半导体器件的形成方法 [P]. 
赵猛 .
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半导体器件的形成方法 [P]. 
何永根 ;
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中国专利 :CN102856259A ,2013-01-02
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半导体器件的形成方法 [P]. 
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半导体器件的形成方法 [P]. 
刘佳磊 .
中国专利 :CN104733309A ,2015-06-24