一种基于深度学习的磁芯表面缺陷的检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111114397.3
申请日
2021-09-23
公开(公告)号
CN113888485A
公开(公告)日
2022-01-04
发明(设计)人
王宪保 周宝 余皓鑫 陈科宇 雷雅彧 翁扬凯
申请人
申请人地址
310014 浙江省杭州市下城区潮王路18号
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06T500 G06K962 G06N304 G06N308
代理机构
杭州求是专利事务所有限公司 33200
代理人
贾玉霞
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
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[3]
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[4]
一种基于深度学习的工件表面缺陷检测方法 [P]. 
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刘俊豪 ;
潘艺芃 ;
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[5]
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[6]
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[7]
基于深度学习的光纤插芯缺陷检测方法 [P]. 
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[8]
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杨书新 ;
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[9]
一种基于深度学习的表面缺陷检测方法 [P]. 
吴剑青 ;
谢扬 ;
杨书新 ;
黄伟东 ;
王碧 ;
曾博文 .
中国专利 :CN117541554B ,2024-08-13
[10]
一种基于深度学习的表面缺陷检测方法 [P]. 
李家贵 ;
李金权 ;
刘建军 ;
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王淼 ;
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中国专利 :CN118674710A ,2024-09-20