金属栅极形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510374270.3
申请日
2015-06-30
公开(公告)号
CN105047613A
公开(公告)日
2015-11-11
发明(设计)人
雷通
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号
IPC主分类号
H01L218238
IPC分类号
H01L2128
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
智云
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
金属栅极器件形成方法 [P]. 
雷通 ;
易海兰 ;
丁弋 .
中国专利 :CN105321884A ,2016-02-10
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金属栅极结构及其形成方法 [P]. 
赛沙德利·甘古利 ;
柳尚澔 ;
李相协 ;
哈阳成 ;
李维迪 ;
金勋 ;
斯里尼瓦斯·甘迪科塔 ;
雷雨 ;
凯文·莫雷斯 ;
唐先民 .
中国专利 :CN102959710B ,2013-03-06
[3]
金属栅极的形成方法 [P]. 
毛刚 .
中国专利 :CN105575788A ,2016-05-11
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CMOS器件金属栅极及其形成方法 [P]. 
王文武 ;
陈世杰 ;
陈大鹏 .
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[5]
金属栅极结构及其形成方法 [P]. 
王燕 ;
吴佳宏 ;
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[6]
金属栅极的形成方法 [P]. 
洪中山 .
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金属栅极的形成方法 [P]. 
韩秋华 .
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金属栅极的形成方法 [P]. 
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张城龙 .
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金属栅极的形成方法 [P]. 
禹国宾 .
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金属栅极的形成方法 [P]. 
何其暘 ;
李凤莲 .
中国专利 :CN104752185B ,2015-07-01