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半导体检测吸嘴
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201320522975.1
申请日
:
2013-08-26
公开(公告)号
:
CN203481204U
公开(公告)日
:
2014-03-12
发明(设计)人
:
余志和
申请人
:
申请人地址
:
215300 江苏省苏州市昆山市周市镇萧林东路132号
IPC主分类号
:
H01L21683
IPC分类号
:
代理机构
:
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
:
陆花
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-06
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/683 申请日:20130826 授权公告日:20140312 终止日期:20200826
2014-03-12
授权
授权
共 50 条
[1]
一种用于半导体检测的吸嘴
[P].
刘增红
论文数:
0
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0
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0
刘增红
;
常浩
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常浩
;
薛良
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薛良
.
中国专利
:CN208460737U
,2019-02-01
[2]
半导体检测结构
[P].
包自意
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0
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0
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0
包自意
.
中国专利
:CN204651291U
,2015-09-16
[3]
半导体检测结构
[P].
廖育德
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0
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廖育德
;
蔡甦谷
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0
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0
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蔡甦谷
.
中国专利
:CN205984977U
,2017-02-22
[4]
半导体检测治具
[P].
赵欣根
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赵欣根
;
姚鹏
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姚鹏
;
黄飞
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黄飞
.
中国专利
:CN209496055U
,2019-10-15
[5]
半导体检测装置
[P].
余宏
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余宏
.
中国专利
:CN206892268U
,2018-01-16
[6]
半导体检测装置
[P].
肖良红
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肖良红
.
中国专利
:CN111346831A
,2020-06-30
[7]
半导体检测机台
[P].
程长青
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程长青
;
秦俊明
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秦俊明
;
李发君
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李发君
;
盛红伟
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盛红伟
;
周密
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0
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周密
.
中国专利
:CN210775144U
,2020-06-16
[8]
半导体检测装置
[P].
请求不公布姓名
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0
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机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
高视科技(苏州)股份有限公司
高视科技(苏州)股份有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN121186081A
,2025-12-23
[9]
半导体检测用定位组件
[P].
佘坚勇
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佘坚勇
;
刘东学
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刘东学
;
谭宏德
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谭宏德
.
中国专利
:CN209374405U
,2019-09-10
[10]
半导体产品拾取吸嘴结构
[P].
卢发生
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卢发生
;
陈永
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陈永
.
中国专利
:CN207731914U
,2018-08-14
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