半导体检测机台

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921654723.8
申请日
2019-09-30
公开(公告)号
CN210775144U
公开(公告)日
2020-06-16
发明(设计)人
程长青 秦俊明 李发君 盛红伟 周密
申请人
申请人地址
230012 安徽省合肥市新站区综合保税区内西淝河路88号
IPC主分类号
G01N1506
IPC分类号
H01L2167
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
曹廷廷
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码
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共 50 条
[1]
用于半导体检测设备的机台及半导体检测设备 [P]. 
王庆涛 .
中国专利 :CN222774517U ,2025-04-18
[2]
半导体检测机 [P]. 
大沼满 ;
小町章 ;
西山和彦 ;
铃木浩之 ;
奈良安彦 .
中国专利 :CN301364817S ,2010-10-13
[3]
半导体检测结构 [P]. 
包自意 .
中国专利 :CN204651291U ,2015-09-16
[4]
半导体检测装置 [P]. 
余宏 .
中国专利 :CN206892268U ,2018-01-16
[5]
半导体检测结构 [P]. 
廖育德 ;
蔡甦谷 .
中国专利 :CN205984977U ,2017-02-22
[6]
半导体检测设备以及半导体检测方法 [P]. 
胡耿涛 ;
林生财 ;
吴贵阳 .
中国专利 :CN117538715A ,2024-02-09
[7]
半导体检测吸嘴 [P]. 
余志和 .
中国专利 :CN203481204U ,2014-03-12
[8]
半导体检测治具 [P]. 
赵欣根 ;
姚鹏 ;
黄飞 .
中国专利 :CN209496055U ,2019-10-15
[9]
一种半导体检测装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN205333836U ,2016-06-22
[10]
对准机构以及半导体检测设备 [P]. 
朱常兴 ;
李星辰 ;
蒋健君 ;
王志康 ;
齐孟宗 .
中国专利 :CN221928030U ,2024-10-29