半导体检测机

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN201030158496.8

申请日：

2010-04-26

公开(公告)号：

CN301364817S

公开(公告)日：

2010-10-13

发明(设计)人：

大沼满小町章西山和彦铃木浩之奈良安彦

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

1005

IPC分类号：

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

张敬强

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-19	专利权的终止	专利权有效期届满主分类号:10-05 申请日:20100426 授权公告日:20101013
2010-10-13	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体检测机台 [P].

程长青 ;

秦俊明 ;

李发君 ;

盛红伟 ;

周密 .

中国专利 :CN210775144U ,2020-06-16

[2]

半导体检测设备以及半导体检测方法 [P].

胡耿涛 ;

林生财 ;

吴贵阳 .

中国专利 :CN117538715A ,2024-02-09

[3]

半导体检测结构 [P].

包自意 .

中国专利 :CN204651291U ,2015-09-16

[4]

半导体检测装置 [P].

余宏 .

中国专利 :CN206892268U ,2018-01-16

[5]

半导体检测方法 [P].

安胜璟 ;

胡艳鹏 ;

卢一泓 .

中国专利 :CN114678285A ,2022-06-28

[6]

半导体检测装置 [P].

肖良红 .

中国专利 :CN111346831A ,2020-06-30

[7]

半导体检测装置 [P].

岸本清治 .

中国专利 :CN1393921A ,2003-01-29

[8]

半导体检测装置 [P].

李海鹏 ;

张宇啸 ;

任文墨 .

中国专利 :CN211455649U ,2020-09-08

[9]

半导体检测结构 [P].

廖育德 ;

蔡甦谷 .

中国专利 :CN205984977U ,2017-02-22

[10]

半导体检测装置 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN121186081A ,2025-12-23

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