检查探针、光学屏的检查装置、光学屏的检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610006709.8

申请日：

2006-02-05

公开(公告)号：

CN1815304A

公开(公告)日：

2006-08-09

发明(设计)人：

山岸英一前田晃利

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G02F113

IPC分类号：

G01R3100 G01R100 G09F930

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

汪惠民

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2006-08-09	公开	公开
2006-10-04	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-09-03	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回

共 50 条

[1]

电子机器、光学屏、检查探针、光学屏检查装置、光学屏的检查方法 [P].

前田晃利 ;

山岸英一 .

中国专利 :CN1815305A ,2006-08-09

[2]

显示屏光学检查装置 [P].

邢小军 .

中国专利 :CN113008521A ,2021-06-22

[3]

光学检查装置和光学检查方法 [P].

李炯珍 .

韩国专利 :CN118533852A ,2024-08-23

[4]

光学检查装置、光学检查系统、光学检查方法以及存储介质 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

冈野英明 .

日本专利 :CN117740774A ,2024-03-22

[5]

光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置 [P].

大野博司 ;

加纳宏弥 ;

神川卓大 ;

冈野英明 ;

大野启文 ;

川崎晃生 ;

吉川寿广 .

日本专利 :CN115809978B ,2025-11-07

[6]

用于容器的光学检查方法和光学检查装置 [P].

安东·尼德迈尔 .

中国专利 :CN108431586B ,2018-08-21

[7]

光学检查方法以及使用它的光学检查装置 [P].

高濑智裕 ;

植松育生 ;

绳田功 .

中国专利 :CN1987423A ,2007-06-27

[8]

光学检查装置和使用其的光学检查方法 [P].

朴佶永 ;

郑旻暻 ;

李熙荣 .

中国专利 :CN114076668A ,2022-02-22

[9]

光学元件的检查装置和光学元件的检查方法 [P].

北林雅志 ;

高户雄二 .

中国专利 :CN1220905C ,2003-03-26

[10]

光学托架的检查装置以及光学托架的检查方法 [P].

河野博夫 ;

加贺美有一 .

中国专利 :CN101895662A ,2010-11-24

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