光谱分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880072703.1

申请日：

2018-10-24

公开(公告)号：

CN111542747A

公开(公告)日：

2020-08-14

发明(设计)人：

村山广大杉野弘幸渡边芙美枝伊东笃志

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N21552

IPC分类号：

G01N2121 G01N213577

代理机构：

北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112

代理人：

顾红霞;龙涛峰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-14	公开	公开
2020-09-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/552 申请日:20181024

共 50 条

[1]

光谱分析装置、光谱分析系统和光谱分析方法 [P].

林田纯弥 ;

柿下容弓 ;

服部英春 ;

堀入纯 .

日本专利 :CN120112781A ,2025-06-06

[2]

光谱分析用池、光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

上野楠夫 ;

村上达希 ;

箕轮大辉 .

日本专利 :CN121057932A ,2025-12-02

[3]

光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

西村克美 .

中国专利 :CN107367469B ,2017-11-21

[4]

光谱分析装置和光谱分析方法 [P].

冯胜 .

中国专利 :CN115343227A ,2022-11-15

[5]

光谱分析装置 [P].

杨素萍 ;

曾维蒸 ;

程松 ;

张鸿 .

中国专利 :CN306971539S ,2021-11-30

[6]

光谱分析装置 [P].

王建平 ;

王志新 ;

邱小龙 ;

潘腾飞 ;

张淞 .

中国专利 :CN212255051U ,2020-12-29

[7]

光谱分析装置 [P].

张鸿 ;

覃秋军 ;

黄志雷 ;

王宇 .

中国专利 :CN214951801U ,2021-11-30

[8]

光谱分析方法 [P].

詹姆斯·约瑟夫·英厄姆 ;

斯蒂芬·大卫·巴雷特 ;

彼得·怀特曼 .

中国专利 :CN112334058A ,2021-02-05

[9]

光谱分析装置 [P].

西村节志 .

中国专利 :CN1007928B ,1986-10-08

[10]

光谱分析装置 [P].

曾维蒸 ;

张鸿 ;

黄志雷 ;

王宇 .

中国专利 :CN306816673S ,2021-09-10

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