光谱分析装置

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN202130136376.6
申请日
2021-03-15
公开(公告)号
CN306816673S
公开(公告)日
2021-09-10
发明(设计)人
曾维蒸 张鸿 黄志雷 王宇
申请人
申请人地址
100083 北京市海淀区王庄路1号院清华同方科技大厦D座西楼22层2211号
IPC主分类号
1005
IPC分类号
代理机构
北京唐颂永信知识产权代理有限公司 11755
代理人
刘伟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
光谱分析装置 [P]. 
杨素萍 ;
曾维蒸 ;
程松 ;
张鸿 .
中国专利 :CN306971539S ,2021-11-30
[2]
光谱分析装置、光谱分析系统和光谱分析方法 [P]. 
林田纯弥 ;
柿下容弓 ;
服部英春 ;
堀入纯 .
日本专利 :CN120112781A ,2025-06-06
[3]
光谱分析用池、光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
上野楠夫 ;
村上达希 ;
箕轮大辉 .
日本专利 :CN121057932A ,2025-12-02
[4]
光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
西村克美 .
中国专利 :CN107367469B ,2017-11-21
[5]
光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
冯胜 .
中国专利 :CN115343227A ,2022-11-15
[6]
光谱分析装置 [P]. 
村山广大 ;
杉野弘幸 ;
渡边芙美枝 ;
伊东笃志 .
中国专利 :CN111542747A ,2020-08-14
[7]
光谱分析装置 [P]. 
王建平 ;
王志新 ;
邱小龙 ;
潘腾飞 ;
张淞 .
中国专利 :CN212255051U ,2020-12-29
[8]
光谱分析装置 [P]. 
张鸿 ;
覃秋军 ;
黄志雷 ;
王宇 .
中国专利 :CN214951801U ,2021-11-30
[9]
光谱分析装置 [P]. 
西村节志 .
中国专利 :CN1007928B ,1986-10-08
[10]
光谱分析装置 [P]. 
王建平 ;
王志新 ;
邱小龙 ;
潘腾飞 ;
张淞 .
中国专利 :CN112198126A ,2021-01-08