光谱分析装置

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专利类型
发明
申请号
CN85101197.7
申请日
1985-04-01
公开(公告)号
CN1007928B
公开(公告)日
1986-10-08
发明(设计)人
西村节志
申请人
申请人地址
日本京都市中京区河原町通二条下鹿诺船入町378番地
IPC主分类号
G01J328
IPC分类号
G01J300
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人
吴增勇;李强
法律状态
专利权的终止未缴年费专利权终止
国省代码
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共 50 条
[1]
光谱分析装置、光谱分析系统和光谱分析方法 [P]. 
林田纯弥 ;
柿下容弓 ;
服部英春 ;
堀入纯 .
日本专利 :CN120112781A ,2025-06-06
[2]
光谱分析用池、光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
上野楠夫 ;
村上达希 ;
箕轮大辉 .
日本专利 :CN121057932A ,2025-12-02
[3]
光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
西村克美 .
中国专利 :CN107367469B ,2017-11-21
[4]
光谱分析装置和光谱分析方法 [P]. 
冯胜 .
中国专利 :CN115343227A ,2022-11-15
[5]
光谱分析装置 [P]. 
村山广大 ;
杉野弘幸 ;
渡边芙美枝 ;
伊东笃志 .
中国专利 :CN111542747A ,2020-08-14
[6]
光谱分析装置 [P]. 
杨素萍 ;
曾维蒸 ;
程松 ;
张鸿 .
中国专利 :CN306971539S ,2021-11-30
[7]
光谱分析装置 [P]. 
王建平 ;
王志新 ;
邱小龙 ;
潘腾飞 ;
张淞 .
中国专利 :CN212255051U ,2020-12-29
[8]
光谱分析装置 [P]. 
张鸿 ;
覃秋军 ;
黄志雷 ;
王宇 .
中国专利 :CN214951801U ,2021-11-30
[9]
光谱分析装置 [P]. 
曾维蒸 ;
张鸿 ;
黄志雷 ;
王宇 .
中国专利 :CN306816673S ,2021-09-10
[10]
光谱分析装置 [P]. 
王建平 ;
王志新 ;
邱小龙 ;
潘腾飞 ;
张淞 .
中国专利 :CN112198126A ,2021-01-08