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一种数字集成电路测试系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201711223490.1
申请日
:
2017-11-29
公开(公告)号
:
CN109839585A
公开(公告)日
:
2019-06-04
发明(设计)人
:
不公告发明人
申请人
:
申请人地址
:
211700 江苏省淮安市盱眙县经济开发区新海大道2号
IPC主分类号
:
G01R31317
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-06-04
公开
公开
2021-05-25
发明专利申请公布后的视为撤回
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/317 申请公布日:20190604
共 50 条
[1]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统
[P].
陈良
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈良
;
郭宪超
论文数:
0
引用数:
0
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0
郭宪超
;
石培杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
石培杰
;
姚健
论文数:
0
引用数:
0
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0
姚健
.
中国专利
:CN112526321A
,2021-03-19
[2]
一种数字集成电路测试系统
[P].
郭琼丹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭琼丹
.
中国专利
:CN114460439A
,2022-05-10
[3]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统
[P].
陈良
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
陈良
;
郭宪超
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
郭宪超
;
石培杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
石培杰
;
姚健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
姚健
.
中国专利
:CN112526321B
,2025-03-18
[4]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统
[P].
陈良
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈良
;
郭宪超
论文数:
0
引用数:
0
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0
郭宪超
;
石培杰
论文数:
0
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0
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0
石培杰
;
姚健
论文数:
0
引用数:
0
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0
姚健
.
中国专利
:CN213780287U
,2021-07-23
[5]
一种数字集成电路测试系统
[P].
王雪莲
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳卓斌电子有限公司
深圳卓斌电子有限公司
王雪莲
.
中国专利
:CN113484734B
,2024-07-19
[6]
一种数字集成电路测试系统
[P].
王雪莲
论文数:
0
引用数:
0
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0
王雪莲
.
中国专利
:CN113484734A
,2021-10-08
[7]
电源转换电路、数字集成电路测试系统
[P].
杨钊辉
论文数:
0
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0
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0
杨钊辉
;
钟锋浩
论文数:
0
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0
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0
钟锋浩
;
袁晓航
论文数:
0
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0
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0
袁晓航
.
中国专利
:CN111830393A
,2020-10-27
[8]
电源转换电路、数字集成电路测试系统
[P].
杨钊辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨钊辉
;
钟锋浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
钟锋浩
;
袁晓航
论文数:
0
引用数:
0
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0
袁晓航
.
中国专利
:CN212845756U
,2021-03-30
[9]
一种数字集成电路芯片测试系统
[P].
边海波
论文数:
0
引用数:
0
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边海波
;
张华庆
论文数:
0
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0
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张华庆
;
李焕春
论文数:
0
引用数:
0
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0
李焕春
.
中国专利
:CN102540060A
,2012-07-04
[10]
多时钟域的数字测试电路、数字集成电路测试系统
[P].
赵阳
论文数:
0
引用数:
0
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赵阳
;
钟锋浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
钟锋浩
.
中国专利
:CN212460415U
,2021-02-02
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