一种数字集成电路测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201711223490.1
申请日
2017-11-29
公开(公告)号
CN109839585A
公开(公告)日
2019-06-04
发明(设计)人
不公告发明人
申请人
申请人地址
211700 江苏省淮安市盱眙县经济开发区新海大道2号
IPC主分类号
G01R31317
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN112526321A ,2021-03-19
[2]
一种数字集成电路测试系统 [P]. 
郭琼丹 .
中国专利 :CN114460439A ,2022-05-10
[3]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN112526321B ,2025-03-18
[4]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN213780287U ,2021-07-23
[5]
一种数字集成电路测试系统 [P]. 
王雪莲 .
中国专利 :CN113484734B ,2024-07-19
[6]
一种数字集成电路测试系统 [P]. 
王雪莲 .
中国专利 :CN113484734A ,2021-10-08
[7]
电源转换电路、数字集成电路测试系统 [P]. 
杨钊辉 ;
钟锋浩 ;
袁晓航 .
中国专利 :CN111830393A ,2020-10-27
[8]
电源转换电路、数字集成电路测试系统 [P]. 
杨钊辉 ;
钟锋浩 ;
袁晓航 .
中国专利 :CN212845756U ,2021-03-30
[9]
一种数字集成电路芯片测试系统 [P]. 
边海波 ;
张华庆 ;
李焕春 .
中国专利 :CN102540060A ,2012-07-04
[10]
多时钟域的数字测试电路、数字集成电路测试系统 [P]. 
赵阳 ;
钟锋浩 .
中国专利 :CN212460415U ,2021-02-02