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一种数字集成电路芯片测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201010622301.X
申请日：
2010-12-27
公开(公告)号：
CN102540060A
公开(公告)日：
2012-07-04
发明(设计)人：
边海波
张华庆
李焕春
申请人：
申请人地址：
100102 北京市朝阳区利泽中二路2号望京科技创业园A座五层
IPC主分类号：
G01R313177
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2014-12-10 | 发明专利申请公布后的视为撤回 | 发明专利申请公布后的视为撤回 号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101708156251 IPC(主分类):G01R 31/3177 专利申请号:201010622301X 申请公布日:20120704 |
| 2012-07-04 | 公开 | 公开 |
| 2012-09-05 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101322545166 IPC(主分类):G01R 31/3177 专利申请号:201010622301X 申请日:20101227 |