一种数字集成电路芯片辅助测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811394225.4

申请日：

2018-11-21

公开(公告)号：

CN111208407B

公开(公告)日：

2020-05-29

发明(设计)人：

杨晶晶

申请人：

申请人地址：

201914 上海市崇明区横沙乡富民支路58号A1-2779室（上海横泰经济开发区）

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297

代理人：

邓文武

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20181121
2020-05-29	公开	公开
2022-05-31	授权	授权

共 50 条

[1]

一种数字集成电路芯片测试系统 [P].

边海波 ;

张华庆 ;

李焕春 .

中国专利 :CN102540060A ,2012-07-04

[2]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN112526321A ,2021-03-19

[3]

一种数字集成电路测试系统 [P].

郭琼丹 .

中国专利 :CN114460439A ,2022-05-10

[4]

一种数字集成电路测试系统 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN109839585A ,2019-06-04

[5]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN112526321B ,2025-03-18

[6]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN213780287U ,2021-07-23

[7]

一种数字集成电路测试系统 [P].

王雪莲 .

中国专利 :CN113484734B ,2024-07-19

[8]

一种数字集成电路测试系统 [P].

王雪莲 .

中国专利 :CN113484734A ,2021-10-08

[9]

一种数字集成电路测试适配器 [P].

李杰 ;

刘春来 ;

黎云浩 ;

蒋常斌 ;

高剑 ;

于明 .

中国专利 :CN203929809U ,2014-11-05

[10]

电源转换电路、数字集成电路测试系统 [P].

杨钊辉 ;

钟锋浩 ;

袁晓航 .

中国专利 :CN111830393A ,2020-10-27

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