一种数字集成电路测试适配器

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320879055.5

申请日：

2013-12-27

公开(公告)号：

CN203929809U

公开(公告)日：

2014-11-05

发明(设计)人：

李杰刘春来黎云浩蒋常斌高剑于明

申请人：

申请人地址：

100088 北京市海淀区北三环中路31号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381

代理人：

陈曦

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-11-05	授权	授权

共 50 条

[1]

一种数字集成电路测试适配器 [P].

王轶轩 .

中国专利 :CN210665951U ,2020-06-02

[2]

一种数字集成电路测试适配器 [P].

刘芳婷 .

中国专利 :CN207866985U ,2018-09-14

[3]

一种集成电路测试适配器 [P].

李杰 ;

冯建科 ;

张东 .

中国专利 :CN201917585U ,2011-08-03

[4]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN112526321A ,2021-03-19

[5]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN112526321B ,2025-03-18

[6]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN213780287U ,2021-07-23

[7]

一种数字集成电路测试系统 [P].

郭琼丹 .

中国专利 :CN114460439A ,2022-05-10

[8]

一种数字集成电路测试系统 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN109839585A ,2019-06-04

[9]

一种数字集成电路测试系统 [P].

王雪莲 .

中国专利 :CN113484734B ,2024-07-19

[10]

一种数字集成电路测试系统 [P].

王雪莲 .

中国专利 :CN113484734A ,2021-10-08

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