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一种数字集成电路测试适配器
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921427604.9
申请日
:
2019-08-30
公开(公告)号
:
CN210665951U
公开(公告)日
:
2020-06-02
发明(设计)人
:
王轶轩
申请人
:
申请人地址
:
110000 辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R102
G05D2319
F21V3300
代理机构
:
徐州市三联专利事务所 32220
代理人
:
何君
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-08-12
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20190830 授权公告日:20200602 终止日期:20210830
2020-06-02
授权
授权
共 50 条
[1]
一种数字集成电路测试适配器
[P].
刘芳婷
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘芳婷
.
中国专利
:CN207866985U
,2018-09-14
[2]
一种数字集成电路测试适配器
[P].
李杰
论文数:
0
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0
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0
李杰
;
刘春来
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刘春来
;
黎云浩
论文数:
0
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0
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黎云浩
;
蒋常斌
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0
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0
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0
蒋常斌
;
高剑
论文数:
0
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0
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0
高剑
;
于明
论文数:
0
引用数:
0
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0
于明
.
中国专利
:CN203929809U
,2014-11-05
[3]
基于JC-3155的数字集成电路通用测试适配器
[P].
王登辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安环宇芯微电子有限公司
西安环宇芯微电子有限公司
王登辉
.
中国专利
:CN220584285U
,2024-03-12
[4]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统
[P].
陈良
论文数:
0
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0
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0
陈良
;
郭宪超
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郭宪超
;
石培杰
论文数:
0
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0
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石培杰
;
姚健
论文数:
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0
姚健
.
中国专利
:CN112526321A
,2021-03-19
[5]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统
[P].
陈良
论文数:
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
陈良
;
郭宪超
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
郭宪超
;
石培杰
论文数:
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0
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
石培杰
;
姚健
论文数:
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0
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
姚健
.
中国专利
:CN112526321B
,2025-03-18
[6]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统
[P].
陈良
论文数:
0
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陈良
;
郭宪超
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郭宪超
;
石培杰
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石培杰
;
姚健
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0
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0
姚健
.
中国专利
:CN213780287U
,2021-07-23
[7]
一种数字集成电路测试总线接口
[P].
赵明琦
论文数:
0
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0
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赵明琦
;
谢朝辉
论文数:
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0
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0
谢朝辉
;
王德坤
论文数:
0
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0
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0
王德坤
;
刘海南
论文数:
0
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刘海南
;
黑勇
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0
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0
黑勇
;
周玉梅
论文数:
0
引用数:
0
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0
周玉梅
.
中国专利
:CN103048495B
,2013-04-17
[8]
一种数字集成电路测试系统
[P].
郭琼丹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭琼丹
.
中国专利
:CN114460439A
,2022-05-10
[9]
一种数字集成电路测试系统
[P].
不公告发明人
论文数:
0
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0
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0
不公告发明人
.
中国专利
:CN109839585A
,2019-06-04
[10]
一种数字集成电路测试系统
[P].
王雪莲
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳卓斌电子有限公司
深圳卓斌电子有限公司
王雪莲
.
中国专利
:CN113484734B
,2024-07-19
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