一种数字集成电路测试适配器

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921427604.9
申请日
2019-08-30
公开(公告)号
CN210665951U
公开(公告)日
2020-06-02
发明(设计)人
王轶轩
申请人
申请人地址
110000 辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R102 G05D2319 F21V3300
代理机构
徐州市三联专利事务所 32220
代理人
何君
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
一种数字集成电路测试适配器 [P]. 
刘芳婷 .
中国专利 :CN207866985U ,2018-09-14
[2]
一种数字集成电路测试适配器 [P]. 
李杰 ;
刘春来 ;
黎云浩 ;
蒋常斌 ;
高剑 ;
于明 .
中国专利 :CN203929809U ,2014-11-05
[3]
基于JC-3155的数字集成电路通用测试适配器 [P]. 
王登辉 .
中国专利 :CN220584285U ,2024-03-12
[4]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN112526321A ,2021-03-19
[5]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN112526321B ,2025-03-18
[6]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN213780287U ,2021-07-23
[7]
一种数字集成电路测试总线接口 [P]. 
赵明琦 ;
谢朝辉 ;
王德坤 ;
刘海南 ;
黑勇 ;
周玉梅 .
中国专利 :CN103048495B ,2013-04-17
[8]
一种数字集成电路测试系统 [P]. 
郭琼丹 .
中国专利 :CN114460439A ,2022-05-10
[9]
一种数字集成电路测试系统 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN109839585A ,2019-06-04
[10]
一种数字集成电路测试系统 [P]. 
王雪莲 .
中国专利 :CN113484734B ,2024-07-19