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一种晶圆检测装置
被引:0
申请号
:
CN202222008507.4
申请日
:
2022-08-01
公开(公告)号
:
CN218350142U
公开(公告)日
:
2023-01-20
发明(设计)人
:
周益初
周亭成
胡丁鹏
成琦
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市高新区竹园路209号4号楼20层2002室
IPC主分类号
:
G01N21892
IPC分类号
:
G01N2101
H01L2166
代理机构
:
苏州久元知识产权代理事务所(普通合伙) 32446
代理人
:
潘宏伟
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-01-20
授权
授权
共 50 条
[1]
一种晶圆边缘检测装置及其晶圆检测设备
[P].
吴坤
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
吴坤
;
钟小江
论文数:
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机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
钟小江
.
中国专利
:CN221262342U
,2024-07-02
[2]
一种晶圆检测装置
[P].
吴昊
论文数:
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0
机构:
深圳傲威半导体有限公司
深圳傲威半导体有限公司
吴昊
;
陆亚斌
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0
机构:
深圳傲威半导体有限公司
深圳傲威半导体有限公司
陆亚斌
;
王成
论文数:
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0
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0
机构:
深圳傲威半导体有限公司
深圳傲威半导体有限公司
王成
.
中国专利
:CN223742344U
,2025-12-30
[3]
一种晶圆检测设备
[P].
吴坤
论文数:
0
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0
机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
吴坤
;
王志铭
论文数:
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0
机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
王志铭
.
中国专利
:CN221078431U
,2024-06-04
[4]
一种晶圆表面检测装置及其晶圆检测设备
[P].
吴坤
论文数:
0
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机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
吴坤
;
黄勇新
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机构:
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
深圳市琢光半导体装备技术有限公司
黄勇新
.
中国专利
:CN221078509U
,2024-06-04
[5]
晶圆检测装置
[P].
张记晨
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张记晨
;
杨金国
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杨金国
;
周许超
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周许超
;
邹秀阳
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邹秀阳
;
孙书诚
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0
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0
孙书诚
.
中国专利
:CN217954288U
,2022-12-02
[6]
晶圆检测装置
[P].
戴焕超
论文数:
0
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0
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机构:
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
戴焕超
;
赖玉强
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机构:
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
赖玉强
;
陆曙明
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机构:
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
陆曙明
;
黄盛庆
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机构:
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
黄盛庆
;
冼家铖
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机构:
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
惠州市艾美珈磁电技术股份有限公司
冼家铖
.
中国专利
:CN220438196U
,2024-02-02
[7]
一种晶圆清洗检测装置
[P].
雷超
论文数:
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0
雷超
.
中国专利
:CN212625496U
,2021-02-26
[8]
一种晶圆检测平台及其晶圆检测装置
[P].
徐开涛
论文数:
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徐开涛
;
陈夏薇
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陈夏薇
;
姚建强
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姚建强
;
郭剑飞
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郭剑飞
;
吴文龙
论文数:
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0
吴文龙
.
中国专利
:CN216979228U
,2022-07-15
[9]
一种晶圆检测机台
[P].
哈捷
论文数:
0
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机构:
阿博索伯(苏州)自动化设备科技有限公司
阿博索伯(苏州)自动化设备科技有限公司
哈捷
;
吴志锋
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0
机构:
阿博索伯(苏州)自动化设备科技有限公司
阿博索伯(苏州)自动化设备科技有限公司
吴志锋
.
中国专利
:CN220893270U
,2024-05-03
[10]
一种晶圆检测系统
[P].
吴志锋
论文数:
0
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0
机构:
阿博索伯(苏州)自动化设备科技有限公司
阿博索伯(苏州)自动化设备科技有限公司
吴志锋
;
哈捷
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
阿博索伯(苏州)自动化设备科技有限公司
阿博索伯(苏州)自动化设备科技有限公司
哈捷
.
中国专利
:CN221201121U
,2024-06-21
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